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3360-P VLSI測試系統

更新时间：2017-11-14

简要描述：

3360-P VLSI測試系統
主要特色：
•25/50 MHz 測試頻率
•25/50 Mbps data rate
•256 logic I/O pins
•8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體
•彈性化硬體結構 （互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD

免费咨询：0755-23217122

发邮件给我们：xz01@junhuiyiqi.vip

3360-P VLSI測試系統

主要特色：

  • 25/50 MHz測試頻率
  • 25/50 Mbps data rate
  • 256 logic I/O pins
  • 8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
  • 彈性化硬體結構 (互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD)
  • 平行測試可達 32 devices
  • Real parallel Trim/Match功能
  • 時序頻率測試單位 Time & Frequency Measurement Unit (TFMU)
  • 測試程式/pattern 轉換器 (V7, TRI6020, V50, E320, SC312, D10,J750, ITS9K, TS670 )
  • AD/DA卡 選配 (16 ~24 bits)
  • SCAN測試 選配 (max 512M/chain)
  • ALPG測試 選配供記憶體用
  • STDF工具支援
  • 人性化 Windows XP 操作環境
  • CRAFT C/C++程式語言

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